液晶顯現屏EMI與處理辦法

幹擾是產(chan) 品整機測試中常見而又十分棘手的問題，當係統電路遭到幹擾時，在電源線或者信號線上產(chan) 生某種頻率、一定幅值的幹擾波。液晶顯現模塊作為(wei) 產(chan) 品的一個(ge) 顯現窗口，必然也是幹擾的扮演窗口之一。模塊對係統而言，是純輸入型部件，或稱被動型部件，既模塊接納滿足操作時序關(guan) 係的任何信號而無判別是非的才能。錯誤的信號與(yu) 數據，將產(chan) 生錯誤的控製字指令或者顯現圖案，招致錯誤的顯現效果。

消弭幹擾的首要工作是找到幹擾源或幹擾影響的位置，然後以有效的辦法去消弭、消弱、或預防、屏蔽、彌補。

液晶顯現屏EMI與(yu) 處理辦法

問：工作時或者做幹擾測試時，呈現白屏/藍屏（所謂白屏或者藍屏，是指模塊屏幕好像剛上電時顯現，隻要背光亮，調比照度也沒有反響）

答：這是由於(yu) 在模塊工作期間，幹擾施加在模塊的電源 VDD 或者VSS 上，或者施加到模塊的RESET 信號線上，招致模塊被複位了。複位的結果是初始化了模塊內(nei) 部存放器，同時關(guan) 顯現。處理的辦法是：假如幹擾施加在電源線上，則倡議在最靠近模塊的位置的電源線VDD、VSS 之間並入一個(ge) 穩壓電容(10uF)和一個(ge) 濾波電容（0.1uF/0.01uF）。假如幹擾施加在 RESET 信號線上，則倡議在最靠近模塊的位置的RESET 信號線對VSS之間並入一個(ge) 濾波電容，電容容量選擇0.1uF 或0.01uF。電容值的選擇，需求依據實踐測試的效果而定。

問：工作時或幹擾測試時，畫麵產(chan) 生錯誤的字符或亂(luan) 點（數據錯誤），而且無法恢複，隻能重新上電，初始化存放器才幹恢複

答： 這是由於(yu) 幹擾施加到控製信號上，使得存放器參數被修正，普通的操作是寫(xie) 顯現數據，沒有對主要工作的存放器參數停止反複寫(xie) 入，所以呈現上述現象。處理的辦法是：假如幹擾施加在傳(chuan) 輸線上，（1）用磁環、或者錫紙、銅薄做線路的屏蔽；（2）改動傳(chuan) 輸線的走向，規避幹擾環境；（3）縮短傳(chuan) 輸線長度；或者參加傳(chuan) 輸線驅動器，以進步驅動才能和抗幹擾才能。

問：工作時或幹擾測試時，找不到幹擾點或者采取電路預防，依然根絕不了幹擾的影響，怎樣辦？

答：定時對存放器初始化，首先不運用RESET 信號，僅(jin) 對存放器操作；假如呈現死機不能恢複的話，就需求運用RESET 信號初始化，但這樣的操作在正常顯現下會(hui) 產(chan) 生閃屏現象。因而，為(wei) 了保證正常顯現不遭到初始化的幹擾1、能夠采用讀存放器數據做初始化的判別根據，如讀顯現狀態字，特殊SRAM 單元數據等。2、運用負性顯現模塊，在不操作時關(guan) 閉背光，此時，不易察看到顯現內(nei) 容，當需求察看顯示內(nei) 容時，希望啟動背光點亮，將此時作為(wei) 重新初始化模塊啟動點，不易被發覺。

問：對產(chan) 品外殼（特別是產(chan) 品麵板）停止靜電幹擾測試，模塊呈現白屏或者亂(luan) 顯現象

答：這種幹擾多數是經過模塊的鐵框或玻璃幹擾模塊電路的。改善的辦法是，（1）模塊的鐵框接大地、（2）模塊的鐵框接VSS，（3）模塊的鐵框浮空，（4）在模塊鐵框與(yu) 金屬外殼之間加絕緣墊，絕緣墊越厚，對靜電的消減就越大；這四種辦法需求在實踐產(chan) 品中測試，選擇有效的辦法。

問：外部沒有幹擾源，但也呈現白屏或者亂(luan) 顯現象

答：這種狀況也屬於(yu) 幹擾，是係統內(nei) 部的幹擾，主要是軟件的程序抵觸所致。首先找出幹擾呈現的規律，如下時機假如發作在模塊的寫(xie) 入過程中時，容易產(chan) 生模塊的死機、錯誤顯現等：中綴程序正在操作模塊（I/O 尋址方式）的過程中產(chan) 生，控製信號被修正、數據被修正等錯誤的操作，招致模塊的死機或顯現錯誤。改善的方式是，在操作模塊過程中，關(guan) 閉中綴響應操作。